CLJ-01E半導體激光塵埃粒子計數(shù)器

CLJ-01E型（半導體激光）塵埃粒子計數(shù)器（LED顯示）
主要技術(shù)參數(shù)及性能：
1.光源: 全半導體 激光光源
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測范圍: 100級～100萬級
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L
5.粒徑通道: 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0（μm）六檔
6.顯示或打印可將2.83升/分內(nèi)所含顆粒轉(zhuǎn)換成1m3所含顆粒數(shù)。
7.采樣周期: 1～10 (min)
8.自凈時間: ≤15 (min)
9.校準：可追溯美國國家標準技術(shù)協(xié)會（NIST），我公司已通過國家計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術(shù)研究院可自行進行校準或第三方國家計量機構(gòu)進行校準
10.工作環(huán)境: 溫度:10～35℃ 相對溫度: 20～75%RH
11.大功耗: 25W
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購）
（1） 溫度：0～50℃±1℃
（2） 濕度：0～100%RH±5%
13.采樣點數(shù) 2～7點設定
14.每點采樣次數(shù) 2～9次設定
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準
16.工作時間：8 小時
17.電源： AC220V±10% 50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸: 260×130×340
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數(shù)字顯示或自選粒徑顯示。
21.備注: 內(nèi)置打印機、自動判斷凈化等級、等動力采樣頭、采樣架
(溫濕度探頭為選購件)

CLJ-01E半導體激光塵埃粒子計數(shù)器